Vacuum FT-IR & FT-IR Microscope

Vacuum FT-IR : VERTEX 80V, FT-IR Microscope : HYPERION 2000

호 실 : 213호
회 사 : BRUKER
담 당 : 나용운
전 화 : 032) 835 - 4219

용도

FT-IR 물질의 구조동정과 다중결합, 작용기, cis-trans 이성체, 환의 치환위치, 수소결합 및 chelation 등의 구조의 특징을 알수 있으며 상대적 정량분석에도 이용된다. 또한 현미경(HYPERION 2000)을 통해 시료의 Chemical imaging Mapping 정보를 알 수 있고, Material  science, Forensics,  Mineralogy, Failure analysis, Content uniformity 분야의 시료들에 Homogeneity Quality control을 실행가능하다.

기기사양


 - 2012년 6월 도입


▶Model : Bruker model VERTEX 80V
▶Specification
1. range : 8,000 - 800㎝-1

2. Resolution : High-resolution scanner option for 0.06㎝-1
resolution(Apodized function)
3. Wavenumber accuracy : Better than 0.01㎝-1
4. Photometric accuracy : 0.1% T

 


▶Model : Bruker Microscope model HYPERION 2000
▶Specification
1. 15 magnification objective
2. Binoculars with adjustable eyepieces
3. IR and visible illumination optics for transmittance
4. High power visible illumination (100W)
5. Video Camera Port

 
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<인천대학교 교내 사용자>
기본 22,000원/시간
ATR/Reflection 27,500원/시간
Hyperion 33,000원/시간
Hyperion ATR 38,500원/시간

<외부 업체 및 외부 대학 사용자>
기본 44,000원/시간
ATR/Reflection 55,000원/시간
Hyperion 66,000원/시간
Hyperion ATR 77,000원/시간

* 프로그램만 사용 시 기본료의 50% 가격 적용
* 부가세(10%) 포함 가격입니다.

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