TEM/STEM-EDS

TALOS F200X

호 실 : 213호
회 사 : FEI
담 당 : 한나경
전 화 : 032) 835-4319

용도

▶투과전자현미경은 가속된 전자빔을 100nm 이하 두께의 얇은 시편에 조사하여 투과된 전자빔과 회절된 전자빔을 이용하여 고배율영상과 회절도형을 얻어 분석하는 기기이다. TALOS F200X는 80V-200kV 까지 가속전압이 변경이 가능하여 질 높은 나노단위 물질의 특성을 빠르게 얻을 수 있다.

기기사양

* Electron Gun : High brightness field - emission gun

* Accelerating voltage : 200kV

* Resolution : TEM point resolution : 0.25nm

                    TEM lattice resolution : 0.10nm

                    STEM resolution : 0.16nm

* Magnification : TEM mode : 25 - 1,030,000 X

                        STEM mode : 150 - 230,000,000X 

* Probe current  : 1.5nA at 1nm probe

                          0.4nA at 0.31nm probe

* Total beam current >50nA

* 4 channel EDS Detectors 


             


응용분야

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<소모품>
Cu grid : 6,600원 / 개당

<인천대학교 교내 사용자>
TEM : 49,500원/30분
STEM : 66,000원/30분
EDS : 66,000원/30분

<외부 업체 및 외부 대학 사용자>
TEM : 99,000 / 30분
STEM : 132,000원/30분
EDS : 132,000원/30분

(기본 사용시간 30분)

* 부가세(10%) 포함 가격입니다.

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