기기예약

FE-TEM/STEM-EDS (열 전계방출형 투과 전자현미경)

상태 사용가능
위치 9호관 213호
제조사 FEI
모델명 TALOS F200X
담당자 한나경, 이지은

용도

▶ 투과전자현미경은 가속된 전자빔을 100nm 이하 두께의 얇은 시편에 조사하여 투과된 전자빔과 회절된 전자빔을 이용하여 고배율영상과 회절도형을 얻어 분석하는 기기이다. TALOS F200X는 80V-200kV 까지 가속전압이 변경이 가능하여 질 높은 나노단위 물질의 특성을 빠르게 얻을 수 있다.  

기기사양

* Electron Gun : High brightness field - emission gun

* Accelerating voltage : 200kV

* Resolution : TEM point resolution : 0.25nm

                    TEM lattice resolution : 0.10nm

                    STEM resolution : 0.16nm

* Magnification : TEM mode : 25 - 1,030,000 X

                        STEM mode : 150 - 230,000,000X 

* Probe current  : 1.5nA at 1nm probe

                          0.4nA at 0.31nm probe

* Total beam current >50nA

* 4 channel EDS Detectors 

 

응용분야

2019 03
     

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<소모품>
Cu grid - carbon : 6,600원 / 개당
Cu grid - lacey carbon : 6,600원 / 개당

<인천대학교 교내 사용자>
TEM : 41,250원/30분
STEM :55,000원/30분
EDS : 55,000원/30분

<외부 업체 및 외부 대학 사용자>
TEM : 82,500 / 30분
STEM : 110,000원/30분
EDS : 110,000원/30분

(기본 사용시간 30분)

* 부가세(10%) 포함 가격입니다.

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