FE-TEM/STEM-EDS (열 전계방출형 투과 전자현미경)
| 상태 | 사용가능 |
|---|---|
| 위치 | 9호관 213호 |
| 제조사 | FEI |
| 모델명 | TALOS F200X |
| 담당자 | 한나경, 이지은 |
용도
▶ 투과전자현미경은 가속된 전자빔을 100nm 이하 두께의 얇은 시편에 조사하여 투과된 전자빔과 회절된 전자빔을 이용하여 고배율영상과 회절도형을 얻어 분석하는 기기이다. TALOS F200X는 80V-200kV 까지 가속전압이 변경이 가능하여 질 높은 나노단위 물질의 특성을 빠르게 얻을 수 있다.
기기사양
* Electron Gun : High brightness field - emission gun
* Accelerating voltage : 200kV
* Resolution : TEM point resolution : 0.25nm
TEM lattice resolution : 0.10nm
STEM resolution : 0.16nm
* Magnification : TEM mode : 25 - 1,030,000 X
STEM mode : 150 - 230,000,000X
* Probe current : 1.5nA at 1nm probe
0.4nA at 0.31nm probe
* Total beam current >50nA
* 4 channel EDS Detectors
응용분야
| 일 | 월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 |
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Cu grid - carbon : 6,600원 / 개당
Cu grid - lacey carbon : 6,600원 / 개당
<인천대학교 교내 사용자>
TEM : 41,250원/30분
STEM :55,000원/30분
EDS : 55,000원/30분
<외부 업체 및 외부 대학 사용자>
TEM : 82,500 / 30분
STEM : 110,000원/30분
EDS : 110,000원/30분
(기본 사용시간 30분)
* 부가세(10%) 포함 가격입니다.
| 순번 | 제목 | 날짜 | 조회수 |
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